<?xml version="1.0" encoding="utf-8"?>
<!-- generator="FeedCreator 1.7.2-ppt DokuWiki" -->
<?xml-stylesheet href="http://anizo.imim.pl/wiki/lib/exe/css.php?s=feed" type="text/css"?>
<rdf:RDF
    xmlns="http://purl.org/rss/1.0/"
    xmlns:rdf="http://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#"
    xmlns:slash="http://purl.org/rss/1.0/modules/slash/"
    xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/">
    <channel rdf:about="http://anizo.imim.pl/wiki/feed.php">
        <title>MULTIS_TEX</title>
        <description></description>
        <link>http://anizo.imim.pl/wiki/</link>
        <image rdf:resource="http://anizo.imim.pl/wiki/lib/images/favicon.ico" />
       <dc:date>2012-05-18T09:41:00+02:00</dc:date>
        <items>
            <rdf:Seq>
                <rdf:li rdf:resource="http://anizo.imim.pl/wiki/doku.php/techniki:pomiar_mikro-naprezen_metodami_wykorzystujacymi_dyfrakcje_elektronow?rev=1287148160&amp;do=diff"/>
                <rdf:li rdf:resource="http://anizo.imim.pl/wiki/doku.php/teksty:wyklady?rev=1278498565&amp;do=diff"/>
                <rdf:li rdf:resource="http://anizo.imim.pl/wiki/doku.php/teksty:prace?rev=1278498547&amp;do=diff"/>
                <rdf:li rdf:resource="http://anizo.imim.pl/wiki/doku.php/techniki:mikroskopia_orientacji?rev=1273561028&amp;do=diff"/>
                <rdf:li rdf:resource="http://anizo.imim.pl/wiki/doku.php/techniki:naprezenia?rev=1273560601&amp;do=diff"/>
            </rdf:Seq>
        </items>
    </channel>
    <image rdf:about="http://anizo.imim.pl/wiki/lib/images/favicon.ico">
        <title>MULTIS_TEX</title>
        <link>http://anizo.imim.pl/wiki/</link>
        <url>http://anizo.imim.pl/wiki/lib/images/favicon.ico</url>
    </image>
    <item rdf:about="http://anizo.imim.pl/wiki/doku.php/techniki:pomiar_mikro-naprezen_metodami_wykorzystujacymi_dyfrakcje_elektronow?rev=1287148160&amp;do=diff">
        <dc:format>text/html</dc:format>
        <dc:date>2010-10-15T15:09:20+02:00</dc:date>
        <dc:creator>Adam Morawiec</dc:creator>
        <title>techniki:pomiar_mikro-naprezen_metodami_wykorzystujacymi_dyfrakcje_elektronow</title>
        <link>http://anizo.imim.pl/wiki/doku.php/techniki:pomiar_mikro-naprezen_metodami_wykorzystujacymi_dyfrakcje_elektronow?rev=1287148160&amp;do=diff</link>
        <description>Pomiar mikro-naprężeń metodami wykorzystującymi dyfrakcję elektronów

Przedmiotem poniższego tekstu jest pomiar lokalnych naprężeń sprężystych, a w szczególności  naprężeń resztkowych. Naprężenia resztkowe (określane też jako naprężenia własne) to te, które pozostają w stacjonarnym materiale nie podlegającym zewnętrznemu obciążeniu. Mają one istotny wpływ na własności materiałów polikrystalicznych i kompozytów. Ich znajomość jest istotnym elementem wyboru optymalnej obróbki materiałów.…</description>
    </item>
    <item rdf:about="http://anizo.imim.pl/wiki/doku.php/teksty:wyklady?rev=1278498565&amp;do=diff">
        <dc:format>text/html</dc:format>
        <dc:date>2010-07-07T12:29:25+02:00</dc:date>
        <dc:creator>Leszek Tarkowski</dc:creator>
        <title>teksty:wyklady</title>
        <link>http://anizo.imim.pl/wiki/doku.php/teksty:wyklady?rev=1278498565&amp;do=diff</link>
        <description>Jan Bonarski

Wykład MMn, część pierwsza

Wykład MMn, część druga

Jerzy Jura

Funkcja  rozkładu  różnic  orientacji   -   modele  dla  jedno-  i  dwu-fazowych  materiałów

Krzysztof Sztwiertnia

Mikroskopia orientacji - MMn 2009</description>
    </item>
    <item rdf:about="http://anizo.imim.pl/wiki/doku.php/teksty:prace?rev=1278498547&amp;do=diff">
        <dc:format>text/html</dc:format>
        <dc:date>2010-07-07T12:29:07+02:00</dc:date>
        <dc:creator>Leszek Tarkowski</dc:creator>
        <title>teksty:prace</title>
        <link>http://anizo.imim.pl/wiki/doku.php/teksty:prace?rev=1278498547&amp;do=diff</link>
        <description>Marcin Kowalski: „Modelowanie rozwoju tekstury krystalograficznej podczas walcowania na zimno stali ferrytyczno – austenitycznej metodą elementów skończonych”

Marcin Świętek: &quot;Analiza Funkcji Rozkładu Orientacji Krystalitów. Budowa Programu Komputerowego.&quot;</description>
    </item>
    <item rdf:about="http://anizo.imim.pl/wiki/doku.php/techniki:mikroskopia_orientacji?rev=1273561028&amp;do=diff">
        <dc:format>text/html</dc:format>
        <dc:date>2010-05-11T08:57:08+02:00</dc:date>
        <dc:creator>Magdalena Bieda</dc:creator>
        <title>techniki:mikroskopia_orientacji</title>
        <link>http://anizo.imim.pl/wiki/doku.php/techniki:mikroskopia_orientacji?rev=1273561028&amp;do=diff</link>
        <description>W podstawowym pomiarze mikroskopii orientacji staramy się określić orientacje krystalograficzną g w zdefiniowanym miejscu próbki. Zmierzona orientacja g jest funkcją współrzędnych (x, y, z) punktu położnego w próbce badanego materiału. Na ogół  ograniczymy nasz pomiar do wybranego jej przekroju, orientacja g zależy wtedy tylko od współrzędnych (x, y) i może być określona w każdym obszarze próbki, w którym istnieje niezaburzona albo niezbyt silnie zaburzona sieć krystaliczna. Rozmieszczenia orien…</description>
    </item>
    <item rdf:about="http://anizo.imim.pl/wiki/doku.php/techniki:naprezenia?rev=1273560601&amp;do=diff">
        <dc:format>text/html</dc:format>
        <dc:date>2010-05-11T08:50:01+02:00</dc:date>
        <dc:creator>Magdalena Bieda</dc:creator>
        <title>techniki:naprezenia</title>
        <link>http://anizo.imim.pl/wiki/doku.php/techniki:naprezenia?rev=1273560601&amp;do=diff</link>
        <description>Naprężenia w próbce mogą być generowane poprzez przyłożenie zewnętrznego obciążenia lub bez zewnętrznego obciążenia, gdy została ona poddana obróbce zmieniającej kształt lub objętość różnych jej części (ziarn). Zwykle pole naprężeń jest anizotropowe i niejednorodne. Naprężenia pozostające w próbce nieobciążonej są nazywane naprężeniami resztkowymi (residual stresses). Szczątkowe naprężenia (sprężyste) mają istotny wpływ na właściwości materiałów. W zależności od ich orientacji i wartości,  naprę…</description>
    </item>
</rdf:RDF>

